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PPGCM168 - MICROSCOPIA ELETRÔNICA - Turma: 01 (2020.1)

Tópicos Aulas
Apresentação (06/03/2020 - 06/03/2020)
   PLANO DE ENSINO_MICROSCOPIA Mestrado 2012.pdf 
Introdução a microscopia ótica (13/03/2020 - 13/03/2020)
Não Haverá Aula (20/03/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (20/03/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (27/03/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (03/04/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (10/04/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (17/04/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (24/04/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (01/05/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (08/05/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (15/05/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (22/05/2020)

Covid 19 - china
Não Haverá Aula (29/05/2020)

Covid 19 - china
interação da radiação eletromagnética com a matéria (05/06/2020 - 12/06/2020)
    
Inicia em 16/06/2020 às 0h 0 e finaliza em 20/06/2020 às 23h 59
    
Inicia em 26/06/2020 às 0h 0 e finaliza em 10/07/2020 às 23h 59
introdução a microscopia eletrônica (12/06/2020 - 12/06/2020)
introdução a microscopia eletrônica (19/06/2020 - 19/06/2020)
microscopia eletrônica de varredura (MEV) (26/06/2020 - 03/07/2020)
microscopia eletrônica de varredura (MEV) (03/07/2020 - 03/07/2020)
    
Inicia em 03/07/2020 às 0h 0 e finaliza em 10/07/2020 às 23h 59
microscopia eletrônica de transmissão (10/07/2020 - 17/07/2020)
microscopia eletrônica de transmissão (17/07/2020 - 17/07/2020)
microanálise estrutural através da microscopia eletrônica (24/07/2020 - 31/07/2020)
microanálise estrutural através da microscopia eletrônica (31/07/2020 - 31/07/2020)
difração e espectroscopia de elétrons (07/08/2020 - 14/08/2020)
difração e espectroscopia de elétrons (14/08/2020 - 14/08/2020)
Introdução a MEV experimental (21/08/2020 - 04/09/2020)
Introdução a MEV experimental (28/08/2020 - 28/08/2020)
Introdução a MEV experimental (04/09/2020 - 04/09/2020)
Princípios básicos de operação e preparação de amostra ao vivo (11/09/2020 - 11/09/2020)
Frequências da Turma
# Matrícula MAR JUN JUL AGO SET Total
06 13 05 12 19 26 03 10 17 24 31 07 14 21 28 04 11
1 2019100**** 0 0 0 4 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 4
2 2019100**** 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
3 2020100**** 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
4 2020100**** 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Notas da Turma
# Matrícula Unid. 1 Prova Final Resultado Faltas Situação
1 2019100**** 8,7 8.7 0 AM
2 2020100**** 8,9 8.9 0 AM
3 2020100**** 7,7 7.7 0 AM
4 2019100**** 8,5 8.5 4 AM

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Plano de Curso

Nesta página é possível visualizar o plano de curso definido pelo docente para esta turma.

Dados da Disciplina
Ementa: Introdução a microscopia, interação da radiação eletromagnética com a matéria, introdução a microscopia eletrônica, microscopia eletrônica de varredura, microscopia eletrônica de transmissão, microanálise estrutural através da microscopia eletrônica, difração e espectroscopia de elétrons, características instrumentais.
Objetivos:
Metodologia de Ensino e Avaliação
Metodologia: Aulas expositivas, com resolução de problemas e exercícios referentes aos tópicos abordados e discussão das aplicações físicas do assunto. Além de parte prática experimental realizada em laboratório.
Procedimentos de Avaliação da Aprendizagem: Livros textos, lousa, pincéis, áudio visual, internet e outros. Microscópio eletrônico no laboratório.
Horário de atendimento:
Bibliografia: 1. Williams, D. B. and Carter, C. B. Transmission Electron Microscopy, Ed. Springer, 1996.
2. J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis – A text for biologists, materials scientists and geologists, Plenum Press, New York, 1992.
3. V. L. Mironov, Fundamentals of scanning probe microscopy, NT-MDT, 2004.
4. D.Sarid, Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces, Ed. Oxford Univ. Pr., 1994.
5. Jean M. Bennett and Lars Mattson, Introduction to surface roughness and scattering, optical society of America, 1999.
6. Sergei N. Magonov, Myung-Hwan Whangbo, Surface analysis with STM and AFM, VCH, 1996.
Cronograma de Aulas

Início

Fim

 Descrição
06/03/2020
06/03/2020
Apresentação
13/03/2020
13/03/2020
Introdução a microscopia ótica
20/03/2020
20/03/2020
Não Haverá Aula
20/03/2020
20/03/2020
Não Haverá Aula
27/03/2020
27/03/2020
Não Haverá Aula
03/04/2020
03/04/2020
Não Haverá Aula
10/04/2020
10/04/2020
Não Haverá Aula
17/04/2020
17/04/2020
Não Haverá Aula
24/04/2020
24/04/2020
Não Haverá Aula
01/05/2020
01/05/2020
Não Haverá Aula
08/05/2020
08/05/2020
Não Haverá Aula
15/05/2020
15/05/2020
Não Haverá Aula
22/05/2020
22/05/2020
Não Haverá Aula
29/05/2020
29/05/2020
Não Haverá Aula
05/06/2020
12/06/2020
interação da radiação eletromagnética com a matéria
12/06/2020
12/06/2020
introdução a microscopia eletrônica
19/06/2020
19/06/2020
introdução a microscopia eletrônica
26/06/2020
03/07/2020
microscopia eletrônica de varredura (MEV)
03/07/2020
03/07/2020
microscopia eletrônica de varredura (MEV)
10/07/2020
17/07/2020
microscopia eletrônica de transmissão
17/07/2020
17/07/2020
microscopia eletrônica de transmissão
24/07/2020
31/07/2020
microanálise estrutural através da microscopia eletrônica
31/07/2020
31/07/2020
microanálise estrutural através da microscopia eletrônica
07/08/2020
14/08/2020
difração e espectroscopia de elétrons
14/08/2020
14/08/2020
difração e espectroscopia de elétrons
21/08/2020
04/09/2020
Introdução a MEV experimental
28/08/2020
28/08/2020
Introdução a MEV experimental
04/09/2020
04/09/2020
Introdução a MEV experimental
11/09/2020
11/09/2020
Princípios básicos de operação e preparação de amostra ao vivo
Avaliações
Data Descrição
26/06/2020 1ª Avaliação
: Referência consta na biblioteca
Referências Básicas
Tipo de material Descrição
Referências Complementares
Tipo de material Descrição
Notícias da Turma
: Visualizar

Título

Data
Reinicio da aulas remotamente 06/05/2020
MAterial MEV 17/03/2020

SIGAA | Superintendência de Tecnologia da Informação - STI/UFPI - (86) 3215-1124 | sigjb04.ufpi.br.sigaa vSIGAA_3.12.1071 23/04/2024 04:21