A técnica de elipsometria padrão já vem se mostrando bastante eficiente na caracterização de óxidos condutores transparentes (TCOs). O ZnO é um semicondutor com um grande band gap (), tendo uma boa condutividade e transparência na regia do visível do espectro. Os filmes analisados neste trabalho foram obtidos através da conversão termal de um precursor orgânico (acetato de zinco di-hidratado) em um material inorgânico a uma temperatura de 300º C, depositado sobre um substrato de SiO2/Si-cristalino por dois diferentes métodos: spin-coat e spray-pyrolysis. Antes da comparação entre as propriedades dos filmes em relação ao método de deposição um modelo ótico que descreva o ZnO precisou ser construído. Visando representar da melhor forma as propriedades óticas do material, três diferentes modelos de dispersão e de função dielétrica foram utilizados: Forouhi e Bloomer (F&B), Tauc-Lorentz e Tanguy. Além do modelo de Drude para a descrição das propriedades elétricas do material. Por fim o melhor modelo para a comparação entre os métodos de deposição foi Drude/Tanguy/Lorentz, onde se constatou a maior condutividade dos filmes depositados por spray-pyrolysis e diferenças em transições na região do ultravioleta representadas através de uma banda de Lorentz.
De forma mais abrangente a elipsometria generalizada vai além, com a obtenção das matrizes de Jones para materiais sem simetria axial, ou seja, um material onde as propriedades variam com a direção em que a amostra é analisada. Dessa forma é necessária uma configuração onde diversas medidas são realizadas em função da rotação do estado de polarização analisado. Para tanto foi necessário desenvolver um programa que permitisse analisar e ajustar os dados. O programa foi testado no SiO2/Si-cristalino, um material já bastante conhecido e descrito na literatura como axial, utilizado para a regressão dos dados experimentais a linguagem Maple, onde alimentado com as medidas e considerando uma amostra geral (não-axial) encontramos parâmetros para descrever o SiO2 como sendo axial, confirmando assim que metodologia utilizada está correta. A aplicação específica com quebra da simetria axial por um campo magnético encontra-se em andamento.